原位超高溫顯微分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位超高溫顯微分析系統(tǒng)一體化高度集成：高度集成IH1700、顯微鏡、CCD、真空系統(tǒng)，消除設(shè)備獨(dú)立操作的繁瑣性。
原位冷熱顯微分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位冷熱顯微分析系統(tǒng)適配生物醫(yī)藥（如藥物結(jié)晶觀察）、食品科學(xué)（如成分相變分析）、地質(zhì)學(xué)（如包裹體高溫行為研究）等多學(xué)科前沿研究領(lǐng)域，為不同領(lǐng)域的材料變溫行為研究...
超高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)采用四探針測(cè)試法，可用于導(dǎo)電橡膠、導(dǎo)電塑料等材料在不同溫度下的電阻特性研究。系統(tǒng)組成包括：超高溫探針熱臺(tái)、四探針方阻測(cè)試儀、專用測(cè)試軟件等。
介電溫譜、頻譜測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
介電溫譜、頻譜測(cè)試系統(tǒng)用于研究材料（如塊體、薄膜等）的介電性能（介電常數(shù)、損耗因子等）隨溫度（溫譜）和頻率（頻譜）的變化規(guī)律。
電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)核心優(yōu)勢(shì)在于能夠模擬真實(shí)放電場(chǎng)景，并支持變溫條件下的欠阻尼和過阻尼充放電測(cè)試，是當(dāng)前儲(chǔ)能材料研究領(lǐng)域的關(guān)鍵科研設(shè)備。
OLED變溫光電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
OLED變溫光電測(cè)試系統(tǒng)是一套研究OLED器件在不同溫度下電致發(fā)光性能的設(shè)備，主要包括冷熱臺(tái)、源表、硅光電二極管、光譜儀以及上位機(jī)控制軟件等。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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